系统校准

optek 的校准配件都是经过精心设计的，能以非侵入方式实现对optek系统的校准及检验。

紫外线传感器

我们提供三个系列的固态滤光片来对传感器进行全方位校准，以确保测量结果是绝对可信的。UV-L系列用于校准传感器的精度与线性，UV-B系列用于检验杂散光，UV-S系列用于测试传感器的长期稳定性。

可见光/近红外传感器

我们为每个波长（或波长范围)提供了一个特殊系列的固态滤光镜，这样能确保传感器的最佳测试性能。这些滤光镜能校准传感器的精度及线性。

理念

optek 校准理念的优点如下:

  • 一个(或一套)滤光镜能对多个传感器进行校准这样，确保了校准的标准是统一的
  • 只要把滤光镜定期发回进行再校准，而传感器可以继续使用

紫外线线性校准滤光镜 UV-L

公称吸收值：0.45, 0.9, 1.8 与 2.4 CU

杂光干扰校准滤光镜 UV-B

公称吸收值：> 3 CU

光谱稳定性校准滤光镜 UV-S

公称吸收值：与具体应用有关

可见光线性校准滤光镜 VIS-L

公称吸收值：0.45, 0.9 与 1.8 CU

近红外线性校准滤光镜 NIR-L

公称吸收值：0.45, 0.9与1.8 CU

校准箱

最多可装7个校准滤光镜

独特的校准比色皿FH03，可以在不干涉生产线的前提下，用产品样品进行校准。利用它，用户可以建立产品的浓度或等同物质的浓度与吸收信号之间的关系，从而可以把实验结果与在线测量值进行比对。

optek提供的所有UV/VIS 校准滤光片随箱都带有NIST（美国国 家标准技术研究所）可追溯性校准报告。optek 的实验室配备有一 台高精度的，具有NIST可追溯性的分光光度计，可以帮助我们快 速地，高质量地完成校准滤光片的校准与再校准。